1. Государственные стандарты База ГОСТ от ФГУП "Стандартинформ" update 01.01.2019, items 43426
  2. Нормативно-техническая документация База нормативно-технических документов update 01.01.2019, items 128867
  3. Строительная документация Архив нормативных актов и документов update 2011, items 23952
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ» Российский союз промышленников и предпринимателей (РСПП) Федеральная служба по аккредитации (Росаккредитация) Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС) Евразийская экономическая комиссия (ЕЭК) Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (МИНПРОМТОРГ) Евразийский экономический союз (ЕАЭС)

Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Дата актуализации: 01.01.2019

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.696-2010
Статус: действующий
Название рус.: Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Дата актуализации текста: 06.04.2015
Дата актуализации описания: 01.01.2019
Дата издания: 19.04.2010
Дата введения: 31.08.2010
Дата последнего изменения: 12.09.2018
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А.
Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
Расположен в: Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики выполнения измерений Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.
ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010ГОСТ Р 8.696-2010