1. Государственные стандарты База ГОСТ от ФГУП "Стандартинформ" update 01.01.2019, items 43426
  2. Нормативно-техническая документация База нормативно-технических документов update 01.01.2019, items 128867
  3. Строительная документация Архив нормативных актов и документов update 2011, items 23952
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ» Российский союз промышленников и предпринимателей (РСПП) Федеральная служба по аккредитации (Росаккредитация) Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС) Евразийская экономическая комиссия (ЕЭК) Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (МИНПРОМТОРГ) Евразийский экономический союз (ЕАЭС)

Скачать ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Дата актуализации: 01.01.2019

ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Обозначение: ГОСТ Р 8.697-2010
Статус: действующий
Название рус.: Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Название англ.: State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата актуализации текста: 06.04.2015
Дата актуализации описания: 01.01.2019
Дата издания: 19.04.2010
Дата введения: 31.08.2010
Дата последнего изменения: 12.09.2018
Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
Расположен в: Государственные стандарты Общероссийский классификатор стандартов Метрология и измерения. Физические явления Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Классификатор государственных стандартов Общетехнические и организационно-методические стандарты Государственная система измерений Методики выполнения измерений Тематические сборники Государственная система обеспечения единства измерений.
ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010ГОСТ Р 8.697-2010